就高品質的四探針測試儀來說，其最好選用尖頭鎢針來作為探針，這主要是因為鎢針具有良好的導電性能，能讓電子更好地傳輸。換句話來說，使用鎢針來測量半導體的電阻率的準確度更高以及測量速度更快。
四探針測試儀是指運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備，其按照單晶矽物理測試方法國家標準並參考美國A.S.T.M標準設計而成的，主要用來測量半導體材料（如矽單晶、鍺單晶、矽片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜以及導電橡膠方塊的電阻等。
從構造來看，四探針測試儀是由主機、測試台、四探針探頭、電腦等部分組成的。測量的資料既可由主機直接顯示，也可以由電腦控制測試採集測試資料到電腦中加以分析，然後以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
為了使四探針測試儀更好地測試半導體的電流與電壓，大多數的設備是選用具有高純度和強導電能力等特點的尖頭鎢針來作為探針，這樣一來能使所測的資料擁有更高的準確性。
尖頭鎢針是一種由純鎢（W＞99.95%）或者鎢合金（W＞98%）製成的產品，外觀結構細長，一端是平面狀，另一端是尖頭。而根據實際使用情況的不同，鎢針的尺寸規格也不一樣。正常，鎢針長度在20mm—150mm之間，直徑在0.5mm—10mm之間。
鎢針可以採用拉絲成型工藝來生產，即將金屬鎢材料加熱至塑性，再經過拉伸到想要的直徑大小，最後經過剪切冷卻。
